Numer: 07/2024 Str. 166
Autorzy: Andrzej Bień , Szymon Barczentewicz , Tomasz Filipów :
Tytuł: Bezpowrotne zniszczenie zawartości pamięci typu Flash
Streszczenie: W artykule przedstawiono laboratoryjny model nowatorskiego urządzenia do nieodwracalnego niszczenia pamięci Flash. W artykule dokonano krótkiego przeglądu literatury na temat niszczenia pamięci Flash. Podano podstawowy opis modelu laboratoryjnego. Zaprezentowano wyniki badań funkcjonalności urządzenia niszczącego Flash. Testy wykazały przydatność zaproponowanego rozwiązania.
Słowa kluczowe: pamięć Flash, bezpieczeństwo danych, impuls elektromagnetyczny, bezpowrotne niszczenie danych