Przegląd Elektrotechniczny

Najstarsze czasopismo elektryków polskich. Ukazuje się od 1919 roku.

strona w języku polskim english page



Numer: 08/2016 Str. 21

Autorzy: Piotr Kunicki , Zbigniew Kowalski , Teodor Gotszalk :

Tytuł: Technologia FIB/SEM w produkcji i badaniach NEMS/MEMS

Streszczenie: Mikroskop FEI Helios600i wraz z mikromanipulatorami Kleindiek MM3A-EM oraz urządzenie Keithley 2400 zostały użyte w naszych eksperymentach. Z powodu ograniczonego miejsca przedstawiono jedynie kilka przykładów procesów z wykorzystaniem technologii FIB/SEM. Największą zaletą tej technologii jest możliwość modyfikacji pojedynczej struktury w krótkim czasie.

Słowa kluczowe: Zogniskowana Wiązka Jonów, Skaningowy Mikroskop Elektronowy, Mikro Elektro-Mechaniczny System, Nano Elektro- Mechaniczny System.

wstecz