Numer: 05/2007 Str. 73-75

Autorzy: Jerzy Pietrzykowski :

Tytuł: Wzorce i warunki geometryczne stosowane w pomiarach połysku zwierciadlanego

Streszczenie: Przedstawiono zależności matematyczne wiążące współczynnik odbicia kierunkowego z połyskiem zwierciadlanym. Opisano wzorce i geometrie pomiaru stosowane w pomiarach połysku zwierciadlanego oraz zasadę działania połyskomierza.

Słowa kluczowe: światło, postrzegane odbicie kierunkowe, połysk zwierciadlany, połyskomierz

wstecz