No/VOL: 01/2016 Page no. 155
Authors: Yuriy Bobalo , Leonid Nedostup , Myroslav Kiselychnyk , Mykhaylo Melen :
Title: Optymalizacja procesu projektowania zapewniająca jakość i niezawodność układów elektronicznych
Abstract: W artykule opisano sposób rozwiązania problem zapewnienia jakości I niezawodności elektroniki. Wykorzystano optymalizację procesu wytwarzania z kryterium minimalizacji defektów bazując na modelu matematycznym.
Key words: jakość, niezawodność, optymalizacja procesu produkcji