Numer: 09/2015 Str. 166
Autorzy: Andrzej Sikora , Łukasz Bednarz :
Tytuł: Opracowanie systemu pomiarowego fotostymulowanej mikroskopii sił z sondą Kelvina. Narzędzie do diagnostyki optoelektrycznych właściwości powierzchni w nanoskali
Streszczenie: W niniejszej pracy zaprezentowano konstrukcję systemu pomiarowego fotostymulowanej mikroskopii sił z sondą Kelvina (ps-KPFM), umożliwiającą mapowanie odpowiedzi elektrycznej powierzchni na pobudzenie optyczne. Przedstawiono kluczowe informacje dotyczące konstrukcji, procedur pomiarowych, jak również zaprezentowano przykłady wyników pomiarowych. Do szczególnych cech opisanego układu należy możliwość wykonywania pomiarów z wykorzystaniem wcześniej opracowanych protokołów. Zbudowany układ pomiarowy umożliwia uzyskanie informacji o optoelektrycznych właściwościach powierzchni dla pobudzenia źródłami światła LED w przedziale od 390 nm do 940 nm oraz lampą ksenonową.
Słowa kluczowe: mikroskopia sił atomowych, mikroskopia sił z sondą Kelvina, pobudzenie optyczne, właściwości optoelektryczne.