No/VOL: 03/2014 Page no. 243
Authors: Krzysztof Dorywalski , Aleksy Patryn , Bohdan Andriyevskyy , Christoph Cobet , Norbert Esser :
Title: System spektroskopii elipsometrycznej z promieniowaniem synchrotronowym w zastosowaniu do badań własności optycznych szerokopasmowych materiałów dla optoelektroniki
Abstract: W artykule przedstawiono implementację techniki spektroskopii elipsometrycznej z wykorzystaniem promieniowania synchrotronowego jako źródła światła do zakresu widmowego nadfioletu próżniowego. Zaprezentowano obecny status VUV systemu elipsometrycznego oraz opisano sposób jego funkcjonowania. Poprzez charakteryzację optyczną kryształu Sr61Ba39Nb2O6, przedstawiono procedurę analizy elipsometrycznych danych pomiarowych dla optycznie jednoosiowego monokryształu z uwzględnieniem anizotropii optycznej oraz niejednorodności powierzchni badanej próbki. Uzyskano zależności dyspersyjne tensora zespolonej przenikalności dielektrycznej ε(E) = ε1(E) + iε2(E) dla kryształu Sr61Ba39Nb2O6 w szerokim zakresie widmowych 2–25 eV, dla kierunków wzdłuż osi krystalograficznych b oraz c.
Key words: VUV elipsometrii, synchrotron, SBN, optyczne.
DOI number: 10.12915/pe.2014.03.56