No/VOL: 07/2013 Page no. 1
Authors: Johannes Sievert , Thierry Belgrand , David Fox , Xialong Guo , Thomas Kochmann , Richard Lyke , Chaoyong Wang , Xing Zhou :
Title: Nowe badania relacji między wynikami pomiarów metodą Epsteina a metodą testera próbek arkuszowych SST
Abstract: Piętnaście lat temu zaprezentowano porównanie wyników badań różnych próbek blach elektrotechnicznych wykonanych metoda Epsteina i przy wykorzystaniu testera próbek arkuszowych SST92. Wyniki pochodziły z badania próbek w tym samym laboratorium. Nowe wyniki zaprezentowane w pracy przedstawiają badania różnych próbek w różnych laboratoriach. Otrzymano nieco większy rozrzut zmierzonych wartości. W artykule analizuje się przyczyny tych różnic.
Key words: blachy elektrotechniczne, rama Epsteina, tester próbek arkuszowych SST