Przegląd Elektrotechniczny

Najstarsze czasopismo elektryków polskich. Ukazuje się od 1919 roku.

strona w języku polskim english page



Numer: 09a/2012 Str. 235

Autorzy: Sławomir Gryś :

Tytuł: Analiza przyrostów temperatury powierzchni materiału nad ukrytym defektem pobudzanym termicznie metodą aktywnej termografii

Streszczenie: W artykule przedstawiono wyniki symulacji wymiany ciepła w jednorodnym materiale z defektem położonym na pewnej głębokości. Badany materiał jest poddawany pobudzeniu cieplnemu, a wykrycie defektu jest oparte na analizie przyrostów w czasie temperatury powierzchni materiału, rejestrowanych np. za pomocą kamery termowizyjnej. Zbadano wpływ wybranych czynników na kształt krzywej przyrostów temperatury. Zastosowanie nowej formuły kontrastu termicznego, zwanego kontrastem filtrowanym, do analizy termogramu dostarcza dodatkowej informacji o naturze układu materiał badany - materiał defektu w porównaniu z analizą przyrostów temperatury, co jest pożądane w ocenie defektu.

Słowa kluczowe: badania nieniszczące, detekcja wad podpowierzchniowych, model analityczny wymiany ciepła, kontrast termiczny

wstecz