Numer: 04b/2012 Str. 163
Autorzy: Mieczysław Nowak , Piotr Grzejszczak , Mariusz Zdanowski , Roman Barlik :
Tytuł: Pomiary termiczne dla weryfikacji wartości strat łączeniowych w półprzewodnikowych przyrządach mocy
Streszczenie: Artykuł jest poświęcony prezentacji prac badawczych mających na celu rozwinięcie metod pomiaru strat łączeniowych w szybkich łącznikach półprzewodnikowych jak MOS oraz IGBT. Przy projektowaniu przekształtników pracujących z dużą częstotliwością łączeń określenie strat łączeniowych na podstawie rejestrowanych przebiegów napięcia i prądu jest trudne i nie daje jednoznacznych wyników. W pracy przedstawiono metodę ilościowego wyznaczania strat energii przy załączaniu i wyłączaniu tranzystorów z zastosowaniem obrazu zarejestrowanego za pomocą kamery termograficznej.
Słowa kluczowe: dobór szybkich łączników, straty energii w tranzystorach mocy MOSFET, tranzystory CoolMOS,. podwójny mostek aktywny, termograficzne pomiary mocy strat