No/VOL: 12a/2011 Page no. 169
Authors: Fei Chen , Bin Zhou , Zhi-chun Qin :
Title: Badania mechanizmu wyładowania elektrostatycznego w inicjatorach półprzewodnikowych SCB
Abstract: Analizowano odpowiedź elektrostatyczną i parametry inicjatora eksplozji. Uszkodzenia mostka są nie zawsze widoczne jeśli napięcie jest poniżej 25 kV. Dlatego stwierdzono że napięcie 25 kV jest krytyczne, poniżej powoduje topienie polisilikonu, ale powyżej skutkuje tworzeniem się plazmy.
Key words: wyładowanie elektrostatyczne ESB, inicjator wyładowania.