Numer: 10/2011 Str. 164
Autorzy: Andrzej Kuczyński :
Tytuł: Rozpoznawanie uszkodzeń katastroficznych i parametrycznych występujących jednocześnie, w nieliniowych układach analogowych
Streszczenie: W artykule omówiono zasady działania opracowanego algorytmu łączącego możliwości rozpoznawania występujących jednocześnie uszkodzeń katastroficznych i parametrycznych w nieliniowych, analogowych układach elektronicznych. W wyniku wstępnego przetworzenia sygnałów testowych, otrzymanych na drodze pomiaru układów zawierających założone uszkodzenia, tworzone są sygnały uczące jednokierunkową sieć neuronową aproksymującą cechy układu. W treści zamieszczono przykłady ilustrujące działanie prezentowanej metody.
Słowa kluczowe: analiza uszkodzeń, metody słownikowe, dyskretna transformacja falkowa, sztuczne sieci neuronowe.