Przegląd Elektrotechniczny
tttt/div>

Oldest magazine of Polish electrician. It appears since 1919.

strona w języku polskim english page



No/VOL: 09b/2011 Page no. 17

Authors: Johannes Sievert , Heiko Ahlers :

Title: Zależność między wynikami aparatu Epsteina i testera próbek arkuszowych SST

Abstract: Zależność między wynikami badań aparatem Epsteina a testerem próbek arkuszowych SST może mieć duże znaczenie praktyczne ponieważ coraz więcej ośrodków stosuje wymiennie tylko jedną z tych metod. Obok różnic fundamentalnych (zasady fizycznej) ważne sa też badania statystyczne różnic między tymi metodami. W artykule zaprezentowano międzynarodowe porównania różnych urządzę pomiarowych – badania wykonywano na różnych rodzajach próbek. Wyniki wskazują że różnice są większe niż w przypadku wcześniej demonstrowanych różnic między badaniami w jednym laboratorium.

Key words: straty magnetyczne, aparat epsteina, SST.

wstecz