Numer: 09a/2011 Str. 151
Autorzy: Grzegorz Lentka , Marek Michalkiewicz :
Tytuł: Miernik elementów RLC na bazie układu „programmable System On a Chip”
Streszczenie: W artykule zaprezentowano miernik parametrów impedancyjnych oparty na układzie typu „programmable System On a Chip” firmy Cypress. Zawiera on w sobie mikroprocesor oraz reprogramowalne bloki analogowe i cyfrowe. Do budowy modelu wykorzystano układ CY8C26443, w którym zaimplementowano metodę pomiaru opartą na dyskretnym przekształceniu Fourier’a pozwalającą, na podstawie zebranych próbek napięcia i prądu, wyznaczyć składowe Re i Im mierzonej impedancji, a następnie wartości elementów RLC przy założonym modelu impedancji.
Słowa kluczowe: pomiar RLC, pomiary impedancji, „programmable System on a Chip” (pSoC), dyskretna transformacja Fouriera.