Przegląd Elektrotechniczny

Najstarsze czasopismo elektryków polskich. Ukazuje się od 1919 roku.

strona w języku polskim english page



Numer: 05/2011 Str. 9

Autorzy: Piotr Bilski :

Tytuł: Automatyczny dobór optymalnych parametrów funkcji jądra w diagnostyce systemów analogowych

Streszczenie: Artykuł przedstawia metodę automatycznego doboru optymalnych parametrów funkcji jądra wykorzystywanych przez maszyny wektorów podpierających w diagnostyce systemów analogowych. Różne warianty symulowanego wyżarzania zostały zaimplementowane w celu uzyskania jak najlepszych wyników diagnostycznych. Metoda została przetestowana na modelu filtru dolnoprzepustowego czwartego rzędu składającego się z dwóch sekcji Sallen-Key oraz dziewięciu elementów mogących być przyczyną uszkodzeń. Eksperymenty obejmowały dobór parametrów symulowanego wyżarzania (temperatura początkowa oraz szybkość schładzania) oraz jąder wektorów podpierających w detekcji i lokalizacji uszkodzeń. Opisana metoda została porównana z przeszukiwaniem wyczerpującym.

Słowa kluczowe: diagnostyka systemów analogowych, optymalizacja, symulowane wyżarzanie, maszyny wektorów podpierających.

wstecz