No/VOL: 11a/2010 Page no. 251
Authors: Jerzy Rutkowski , Damian Grzechca , Piotr Kyzioł :
Title: Testowanie i diagnostyka analogowych układów elektronicznych z wykorzystaniem wielowymiarowej przestrzeni poszukiwań
Abstract: W tym artykule nowa metoda testowania analogowych układów elektronicznych została zaprezentowana. Metoda testowania wykorzystuje wielowymiarową przestrzeń poszukiwań. Zaprezentowane rezultaty badań wyraźnie pokazują, że użycie więcej niż jednego wymiaru podczas testowania układu elektronicznego pozwala na zwiększenie liczby jednoznacznie lokalizowanych stanów testowanego układu.
Key words: wielowymiarowa przestrzeń poszukiwań, CUT, PSO, diagnostyka