Numer: 10/2010 Str. 65
Autorzy: Małgorzata Kujawińska , Jerzy Krężel :
Tytuł: Zminiaturyzowany ekstensometr siatkowy
Streszczenie: W artykule przedstawiono koncepcję, modelowanie, wstępne badania oraz konstrukcję niskonakładowego zminiaturyzowanego ekstensometru siatkowego. Urządzenie przeznaczone jest do pomiaru mikropól przemieszczeń i odkształceń w dużych konstrukcjach inżynierskich. Czujnik bazuje na interferometrii siatkowej wg koncepcji R. Czarnka, w przypadku której wymagana jest integracja siatki dyfrakcyjnej na powierzchni badanego elementu. Uzyskanie niskonakładowego urządzenia możliwe jest dzięki replikacji głowicy pomiarowej, będącej monolitycznym blokiem generującym i prowadzącym wiązki oświetlające obiekt.
Słowa kluczowe: interferometr siatkowy, modelowanie mikrosystemów, mikrotechnologie, wytłaczanie na gorąco, optyczne elementy polimerowe.