Przegląd Elektrotechniczny

Najstarsze czasopismo elektryków polskich. Ukazuje się od 1919 roku.

strona w języku polskim english page



Numer: 07/2010 Str. 276

Autorzy: Tomasz Kołtunowicz , V.G. Lugin , Ivan Zarskij , Tatiana Kamliuk :

Tytuł: Badania mikrostruktury powierzchni osadzanych chemicznie matryc SiO2 jako nośników funkcjonalnych elementów optoelektroniki

Streszczenie: W pracy zbadano strukturalne i optyczne właściwości cienkowarstwowych matryc na bazie SiO2 wytworzonych techniką zol-żel używanych do wykrywania amoniaku. Określono związek pomiędzy właściwościami strukturalnymi oraz odpowiedzią optyczną przy detekcji amoniaku. Wykazano możliwość zastosowania wytworzonych warstw w analizatorach gazów.

Słowa kluczowe: matryca SiO2, technika zol-żel, czujnik optyczny, amoniak.

wstecz