Przegląd Elektrotechniczny

Najstarsze czasopismo elektryków polskich. Ukazuje się od 1919 roku.

strona w języku polskim english page



Numer: 07/2010 Str. 270

Autorzy: Igor Azarko , Vladimir Odzhaev , Mikhail Lukashevich , Pavel Zhukovski , Yuri Bumai , Vlas Volobuev :

Tytuł: Badania optyczne, AFM i ESR fotorezystu implantowanego jonami Sb+

Streszczenie: Badano strukturę, elektronowy rezonans spinowy oraz współczynnik odbicia cienkich powłok fotorezystu implantowanego jonami antymonu o energii 60 keV dawkami w zakresie 1x1015 – 5x1015 cm-2. Przy dawce krytycznej 5x1015 cm-2 zaobserwowano powstawanie warstwy osadu węgłowego. Określono grubość warstwy implantowanej: 0.27- 0.39 m oraz zmiany współczynnika odbicia – w zakresie 2,4 - 3,4 w zależności od dawki implantacji.

Słowa kluczowe: implantacja jonowa, antymon, fotorezyst, właściwości optyczne.

wstecz