No/VOL: 11/2009 Page no. 313-316
Authors: Ryszard Kopka :
Title: Estymacja parametrów niezawodnościowych półprzewodnikowych źródeł światła
Abstract: Coraz częściej półprzewodnikowe źródła światła zastępują tradycyjne żarówki. Ich bardzo duża żywotność wynika z własności emisji światła ze struktury półprzewodnika. To praktycznie eliminuje uszkodzenia związane z całkowitym zanikiem świecenia. Jednak zachodzące w takiej strukturze procesy degradacji istotnie zmniejszają ilość emitowanego światła. W pracy przedstawiono wyniki badań modelowana matematycznego pozwalającego szacować parametry niezawodnościowe półprzewodnikowych źródeł światła zarówno w oparciu o obserwację czasów do uszkodzeń nagłych jak i stopniowych, związanych z zachodzącymi procesami degradacji.
Key words: półprzewodnikowe źródła światła, ocena niezawodności, procesy degradacji