Numer: 11/2009 Str. 313-316
Autorzy: Ryszard Kopka :
Tytuł: Estymacja parametrów niezawodnościowych półprzewodnikowych źródeł światła
Streszczenie: Coraz częściej półprzewodnikowe źródła światła zastępują tradycyjne żarówki. Ich bardzo duża żywotność wynika z własności emisji światła ze struktury półprzewodnika. To praktycznie eliminuje uszkodzenia związane z całkowitym zanikiem świecenia. Jednak zachodzące w takiej strukturze procesy degradacji istotnie zmniejszają ilość emitowanego światła. W pracy przedstawiono wyniki badań modelowana matematycznego pozwalającego szacować parametry niezawodnościowe półprzewodnikowych źródeł światła zarówno w oparciu o obserwację czasów do uszkodzeń nagłych jak i stopniowych, związanych z zachodzącymi procesami degradacji.
Słowa kluczowe: półprzewodnikowe źródła światła, ocena niezawodności, procesy degradacji