Przegląd Elektrotechniczny
tttt/div>

Oldest magazine of Polish electrician. It appears since 1919.

strona w języku polskim english page



No/VOL: 04/2009 Page no. 10-12

Authors: Jiri Dejmek , Pavel Stekl :

Title: Możliwości aplikacji funkcji statystycznych w środowisku LabView

Abstract: Artykuł przedstawia możliwości aplikacji specyficznych funkcji statystycznych w środowisku LabView. Opracowano specyficzne funkcje statystyczne pozwalające ocenić jakościowe i ilościowe różnice występujące pomiędzy danymi eksperymentalnymi i teoretycznymi. Przedyskutowano aplikacyjność opracowanych funkcji i ich efektywność na wybranym przykładzie.

Key words: funkcje statystyczne, LabView

wstecz