Przegląd Elektrotechniczny

Najstarsze czasopismo elektryków polskich. Ukazuje się od 1919 roku.

strona w języku polskim english page



Numer: 04/2009 Str. 10-12

Autorzy: Jiri Dejmek , Pavel Stekl :

Tytuł: Możliwości aplikacji funkcji statystycznych w środowisku LabView

Streszczenie: Artykuł przedstawia możliwości aplikacji specyficznych funkcji statystycznych w środowisku LabView. Opracowano specyficzne funkcje statystyczne pozwalające ocenić jakościowe i ilościowe różnice występujące pomiędzy danymi eksperymentalnymi i teoretycznymi. Przedyskutowano aplikacyjność opracowanych funkcji i ich efektywność na wybranym przykładzie.

Słowa kluczowe: funkcje statystyczne, LabView

wstecz