Numer: 03/2003 Str. 172-175
Autorzy: Tomasz Chady , Ryszard Sikora , Piotr Baniukiewicz :
Tytuł: Zastosowanie filtrów selektywnych w wiroprądowej defektoskopii wieloczęstotliwościowej
Streszczenie: W artykule przedstawiono podstawy wiroprądowej defektoskopii wieloczęstotliwościowej. Metody wieloczęstotliwościowe dają o wiele więcej informacji na temat wady ukrytej w materiale niż metody oparte na pomiarze jednej częstotliwości, dzięki czemu położenie wady, jej kształt, rozmiar może być określony w sposób bardziej precyzyjny. Autorzy zaproponowali urządzenie składające się z zespołu analogowych filtrów aktywnych, mające na celu poprawienie właściwości pomiarowych i użytkowych toru pomiarowego. Celem artykułu jest przedstawienie sposobu projektowania środkowoprzepustowych filtrów eliptycznych oraz późniejszej ich realizacji za pomocą specjalistycznych układów scalonych.
Słowa kluczowe: defektoskopia wiroprądowa