Przegląd Elektrotechniczny

Najstarsze czasopismo elektryków polskich. Ukazuje się od 1919 roku.

strona w języku polskim english page



Numer: 05/2008 Str. 345-348

Autorzy: Łukasz Oskwarek , Mariusz Płuska :

Tytuł: Metoda określenia wpływu zewnętrznego pola magnetycznego na wiązkę elektronów oraz na obwody elektryczne w skaningowym mikroskopie elektronowym

Streszczenie: Deformacja obrazu struktury badanego obiektu spowodowana oddziaływaniem zewnętrznego pola zakłócającego jest jednym z najczęściej spotykanych niepożądanych efektów w skaningowej mikroskopii elektronowej. Tematyka artykułu odnosi się oceny wpływu pól elektromagnetycznych na wyniki obrazowania z równoczesnym określeniem sposobu separacji wpływu tegoż pola na bieg wiązki w kolumnie i komorze mikroskopu elektronowego oraz na obwody elektryczne mikroskopu.

Słowa kluczowe: skaningowy mikroskop elektronowy, zniekształcenia obrazu mikroskopowego, zakłócenia elektromagnetyczne

wstecz