No/VOL: 03/2008 Page no. 283-284
Authors: Paweł Zukowski , Czesław Karwat , Czesław Kozak , Mariusz Kolasik , Valery Luhin :
Title: Badania szybkości degradacji powłok ochronnych styków łączników prądu przemiennego za pomocą elektronowej mikroskopii skaningowej i mikroanalizy rentgenowskiej
Abstract: W pracy przedstawiono wyniki badań zmian koncentracji powierzchniowej srebra zachodzących w trakcie eksploatacji w powłokach ochronnych naniesionych galwanicznie na styki miedziane łączników powszechnego użytku.
Key words: styki, powłoki ochronne