Numer: 03/2024 Str. 257
Autorzy: Maciej Skrzetuszewski , Sylwia Górnik , Maciej Zajkowski :
Tytuł: Przegląd metodologii związanej z wielokątowym charakteryzowaniem wzorców widmowego współczynnika odbicia
Streszczenie: Artykuł opisuje ogólne metody wzorcowania spektrofotometrów odbiciowych i kolorymetrów trójchromatycznych wzorcowanych w Głównym Urzędzie Miar w Zakładzie Elektryczności i Promieniowania. Zaprezentowano podstawowe wzory obliczeniowe mające zastosowanie w kolorymetrii odbiciowej. Przedstawiono stanowiska pomiarowe umożliwiające wyznaczenie dwukierunkowej funkcji rozkładu odbicia (BRDF) oraz stanowisko pomiarowe związane z wielokątowym charakteryzowaniem wzorców widmowego współczynnika odbicia.
Słowa kluczowe: światło odbite, wzorce widmowego współczynnika odbicia, spektrofotometr z przystawką wielokątową.