Przegląd Elektrotechniczny

Najstarsze czasopismo elektryków polskich. Ukazuje się od 1919 roku.

strona w języku polskim english page



Numer: 02/2024 Str. 217

Autorzy: Marcin Połomski , Tomasz Kraszewski , Artur Pasierbek , Anna Piwowar , Magdalena Kraszewska :

Tytuł: Metoda skanowania z użyciem światła strukturalnego w procesie identyfikacji wad detali

Streszczenie: Artykuł stanowi opis propozycji zastosowania skanera wykorzystującego światło strukturalne w celu identyfikacji wad detali poddawanych obróbce. Artykuł stanowi część prac związanych z opracowaniem linii do automatycznej identyfikacji wad na elementach obrabianych. W artykule dokonano uzasadnienia wyboru metody skanowania oraz wyniki pomiarów przy użyciu skanerów światła strukturalnego określające możliwości wykorzystania ich w wizyjnej detekcji wad.

Słowa kluczowe: detekcja wad, systemy wizyjne, światło strukturalne, proces skanowania, skanery światła strukturalnego

wstecz