No/VOL: 03/2008 Page no. 20-23
Authors: Anatoly Belous , Anthon Emelyanov , Valentine Syakersky , Ryhor Chyhir :
Title: Model umożliwiający prognozowanie jakości obwodów scalonych na podstawie wyników testów kontrolnych
Abstract: Zaproponowano model umożliwiający prognozowanie jakości produkcji obwodów scalonych oraz kontroli ich jakości. Celem było zapewnienie istotnego rozrzutu wyników kontroli parametrów umożliwiające ocenę jakości produkcji każdego z indywidualnych procesów technologicznych, umożliwienie optymalizacji procesu oraz prognozowanie jakości.
Key words: mikroelekronika, jakosc produkcji, prognozowanie, optymalizacja