Numer: 02/2018 Str. 70
Autorzy: Artur Noga , Dariusz Wójcik , Maciej Surma :
Tytuł: Pełnofalowa analiza odporności elektroencefalografu na zaburzenia promieniowane
Streszczenie: W artykule pokazano wyniki pełnofalowej analizy odporności elektroencefalografu na zaburzenia promieniowane. Do symulacji wykorzystano numeryczny model rzeczywistego obwodu drukowanego elektroencefalografu z dołączonymi przewodami. Strukturę "oświetlano" płaską fala elektromagnetyczną dla różnych polaryzacji i kierunków padania. Głównym celem prac było wskazanie dróg przenikania zaburzeń i oszacowanie wpływu filtrów wejściowych na poziom napięć indukowanych w kanałach pomiarowych.
Słowa kluczowe: elektroencefalograf, odporność promieniowana, analiza numeryczna, kompatybilność elektromagnetyczna.