Numer: 09/2016 Str. 88
Autorzy: Michael Tivanov , Iryna Kaputskaya , Aleksy Patryn , Anis Saad , Ludmila Survilo , Evgenij Ostretsov :
Tytuł: Wyznaczanie parametrów optycznych grubych warstw CdSxSe1-x z analizy widma odbicia
Streszczenie: Przeanalizowano metodę wyznaczenia szerokości przerwy energetycznej i współczynnika załamania z pomiarów widma współczynnika odbicie warstw CdSxSe1-x otrzymanych metodami sitodruku i konsolidacji termicznej (sintering technique).
Słowa kluczowe: półprzewodniki, warstwy CdSxSe1-x, współczynnik załamania, widmo odbicia.