No/VOL: 05/2007 Page no. 73-75

Authors: Jerzy Pietrzykowski :

Title: Wzorce i warunki geometryczne stosowane w pomiarach połysku zwierciadlanego

Abstract: Przedstawiono zależności matematyczne wiążące współczynnik odbicia kierunkowego z połyskiem zwierciadlanym. Opisano wzorce i geometrie pomiaru stosowane w pomiarach połysku zwierciadlanego oraz zasadę działania połyskomierza.

Key words: światło, postrzegane odbicie kierunkowe, połysk zwierciadlany, połyskomierz

wstecz