No/VOL: 09/2015 Page no. 166
Authors: Andrzej Sikora , Łukasz Bednarz :
Title: Opracowanie systemu pomiarowego fotostymulowanej mikroskopii sił z sondą Kelvina. Narzędzie do diagnostyki optoelektrycznych właściwości powierzchni w nanoskali
Abstract: W niniejszej pracy zaprezentowano konstrukcję systemu pomiarowego fotostymulowanej mikroskopii sił z sondą Kelvina (ps-KPFM), umożliwiającą mapowanie odpowiedzi elektrycznej powierzchni na pobudzenie optyczne. Przedstawiono kluczowe informacje dotyczące konstrukcji, procedur pomiarowych, jak również zaprezentowano przykłady wyników pomiarowych. Do szczególnych cech opisanego układu należy możliwość wykonywania pomiarów z wykorzystaniem wcześniej opracowanych protokołów. Zbudowany układ pomiarowy umożliwia uzyskanie informacji o optoelektrycznych właściwościach powierzchni dla pobudzenia źródłami światła LED w przedziale od 390 nm do 940 nm oraz lampą ksenonową.
Key words: mikroskopia sił atomowych, mikroskopia sił z sondą Kelvina, pobudzenie optyczne, właściwości optoelektryczne.