No/VOL: 04b/2012 Page no. 163
Authors: Mieczysław Nowak , Piotr Grzejszczak , Mariusz Zdanowski , Roman Barlik :
Title: Pomiary termiczne dla weryfikacji wartości strat łączeniowych w półprzewodnikowych przyrządach mocy
Abstract: Artykuł jest poświęcony prezentacji prac badawczych mających na celu rozwinięcie metod pomiaru strat łączeniowych w szybkich łącznikach półprzewodnikowych jak MOS oraz IGBT. Przy projektowaniu przekształtników pracujących z dużą częstotliwością łączeń określenie strat łączeniowych na podstawie rejestrowanych przebiegów napięcia i prądu jest trudne i nie daje jednoznacznych wyników. W pracy przedstawiono metodę ilościowego wyznaczania strat energii przy załączaniu i wyłączaniu tranzystorów z zastosowaniem obrazu zarejestrowanego za pomocą kamery termograficznej.
Key words: dobór szybkich łączników, straty energii w tranzystorach mocy MOSFET, tranzystory CoolMOS,. podwójny mostek aktywny, termograficzne pomiary mocy strat