No/VOL: 11a/2010 Page no. 207
Authors: Andrzej Sikora , Łukasz Bednarz :
Title: System zaawansowanej analizy sygnałów do pomiaru właściwości mechanicznych powierzchni w mikroskopii sił atomowych
Abstract: W niniejszym artykule zaprezentowano opracowany moduł diagnostyczny, który pozwolił na rozszerzenie możliwości pomiarowych komercyjnego mikroskopu sił atomowych. Zaimplementowane rozwiązanie sprzętowo-programowe pozwala na detekcję skrętnych wychyleń belki skanującej. W efekcie możliwe jest zrekonstruowanie krzywej spektroskopii sił, co umożliwia szybkie, wysokorozdzielcze mapowanie właściwości powierzchni takich jak sztywność, adhezja czy rozpraszanie energii..
Key words: mikroskopia sił atomowych, techniki pomiarowe, przetwarzanie sygnałów.