No/VOL: 04/2010 Page no. 72
Authors: Wiesław Wilczyński , Andrzej Sikora , Dominika Gaworska-Koniarek , Mariusz Ozimek :
Title: Nanoskopowa analiza orientacji domen magnetycznych z wykorzystaniem technik bliskiego pola
Abstract: Cienkie warstwy NiFe otrzymano na szkle kwarcowym za pomocą impulsowego rozpylania magnetronowego. Proces nakładania prowadzono przy stałej mocy (550 W) i różnym ciśnieniu gazu roboczego (0,4, 1,0, 4,0 Pa). Zbadano strukturę domenową otrzymanych warstw za pomocą mikroskopii sił magnetycznych (MFM). Grubość powłok zawierała się w przedziale od 80 do 150 nm.
Key words: mikroskopia sił magnetycznych, domeny magnetyczne, cienkie warstwy Ni-Fe, rozpylanie magnetronowe.