Przegląd Elektrotechniczny
tttt/div>

Oldest magazine of Polish electrician. It appears since 1919.

strona w języku polskim english page



No/VOL: 05/2008 Page no. 161-164

Authors: Rafał Krajewski , Małgorzata Kujawińska , Nitish Kumar , Tomasz Kozacki , Hugo Thienpont :

Title: Badania rozkładu współczynnika załamania polimerowych struktur mikrooptycznych za pomocą systemu tomografii interferencyjnej

Abstract: W artykule przedstawione zostały wyniki pomiarów zintegrowanego dwuwymiarowego rozkładu współczynnika załamania (projekcji) elementów optycznych wykonanych za pomocą niskonakładowych technologii wytwarzania. Pomiar polega na analizie rozkładu fazy wiązki światła przechodzacej przez badaną próbkę. Do wyznaczenia rozkładu współczynnika załamania zastosowany został dedykowany algorytm kompensujący wpływ kształtu powierzchni na wynik pomiaru. Skorygowane projekcje stanowią dane wejściowe do rekonstrukcji tomograficznej n(x,y,z). Wyniki pomiarów są punktem wyjścia do zaprojektowania nowej generacji niskonakładowych układów mikrointerferometrycznych.

Key words: pomiar współczynika załamania, technologie niskonakładowe, tomografia interferencyjna

wstecz