No/VOL: 03/2024 Page no. 257
Authors: Maciej Skrzetuszewski , Sylwia Górnik , Maciej Zajkowski :
Title: Przegląd metodologii związanej z wielokątowym charakteryzowaniem wzorców widmowego współczynnika odbicia
Abstract: Artykuł opisuje ogólne metody wzorcowania spektrofotometrów odbiciowych i kolorymetrów trójchromatycznych wzorcowanych w Głównym Urzędzie Miar w Zakładzie Elektryczności i Promieniowania. Zaprezentowano podstawowe wzory obliczeniowe mające zastosowanie w kolorymetrii odbiciowej. Przedstawiono stanowiska pomiarowe umożliwiające wyznaczenie dwukierunkowej funkcji rozkładu odbicia (BRDF) oraz stanowisko pomiarowe związane z wielokątowym charakteryzowaniem wzorców widmowego współczynnika odbicia.
Key words: światło odbite, wzorce widmowego współczynnika odbicia, spektrofotometr z przystawką wielokątową.